发布时间:2021/7/20 15:12:17
标签:薄膜测量系统单点测量 薄膜测量系统 薄膜测量
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薄膜测量系统单点测量产品简介:
MProbe 20是一款用于薄膜厚度测量的桌面系统,在范围内有成千上万的应用。它测量薄膜厚度和折射率只需鼠标点击。厚度从1nm 1mm,包括多层膜层,可以快速和可靠地测量。不同的MProbe 20模型主要由光谱仪的波长范围和分辨率来区分,这又决定了可以测量的材料的厚度范围和类型。该测量技术基于光谱反射率,具有快速、可靠、无损等特点。
MProbe 20薄膜测量系统单点测量产品相册:
Mprobe 20 不同配置与厚度范围:
薄膜测量系统单点测量设备配置:
主单元(包括光谱仪、光源、光控制器、微处理器)
SH200A样品台,带对焦镜头,可微调
光导纤维反射探头
TFCompanion -RA软件、USB适配器(授权密钥)、USB记忆棒附带软件发行、用户指南等资料
根据型号和黑色吸收体的不同,校准装置(裸硅片和/或石英板和/或铝镜)
测试样品200nm的氧化硅或PET薄膜,视型号而定
USB或LAN线(用于连接主机和PC)
24VDC电源适配器(110/220V)
薄膜测量系统单点测量设备配置:
精度:<0.01nm或0.01%(在200nm的氧化物上测量100次)
精度:<1nm或0.2%(依赖于filmstack)
稳定性:< 0.02nm或0.2%(每天测量20天)
光斑大小:< 1毫米
样本尺寸:>= 10mm
参见下面小册子中MProbe 20薄膜厚度测量系统可用配置的详细规格
薄膜测量系统单点测量产品规格:
MProbe 20 | 波长范围 | 规格 | 厚度范围 |
VIS | 400nm -1100nm | F3 Ariel Spectrometer, 2048/4096 pix cmos, 16 bit ADC, 5W Tungsten-Halogen lamp | 10nm – 75 μm |
UVVISSR | 200nm -1100nm | F4 Spectrometer, 2048 pix (backthinned),16 bit ADC 20W TH lamp, 30W Deuterium short-ark lamp | 1nm -75μm |
VISHR | 700nm-1700nm | F4 Spectrometer, 2048 pix (backthinned),16 bit ADC, 5W TH lamp | 1μm-400μm |
NIR | 900nm-1700nm | F4 spectrometer, InGaAs detector 512 pix., 16 bit ADC, 5W TH lamp | 50nm – 85μm |
UVVisF | 200nm -800nm | F4 spectrometer, Si detector 2048 pixels ccd, 16 bit ADC, 10W Xe flash lamp | 1nm – 5μm |
UVVISNIR | 200nm-1700nm | F4 Spectrometer, 2048pix (backthinned),16 bit ADC 20W TH lamp, 30W Deuterium short-ark lamp. F4spectrometer, InGaAs detector 512 pix., 16 bit ADC, 5W TH lamp | 1nm -75μm |
NIRHR | 200nm -1100nm | F4 spectrometer, InGaAs detector 512 pix., 16 bit ADC, 5W TH lamp or SLDoption | 10μm-1800μm (glass)4μm-400μm (Si) |
更新时间:2023/11/11 17:14:09
半导体薄膜无损检测仪型号:
光弹性系数测量仪型号:
大孔径高功率光隔离器型号:
薄膜测量系统单点测量型号:MProbe 20
大尺寸皮MCP探测器型号:LAPPD
实时测量自相关仪型号:FR-103kHz
高功率自相关仪型号:FR-103HP
分光辐射亮度计型号:CS2000
Product classification
主营产品:昊量代理的产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、精密光学元件,连续激光器(CW),ns | ps | fs 脉冲激光器,可调谐激光器,激光量测设备,调制器,偏转器,滤波器,空间光调制产品,信号处理,分析设备,光谱仪器,相机系列,光学器件,光栅,光学晶体,光纤器件,位移台,偏转镜,旋转台,冷原子,量子光学产品,材料分析设备,光学检测设备,显微成像系统及组件,光学隔振平台,THz产品,X射线产品,等
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