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发布时间：2019/10/6 9:16:36
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150AT全自动应力双折射测量系统
全自动应力双折射测量系统
150AT 应力双折射系统是Hinds应力双折射测量系统家族系列产品。该应力双折射测量系统既可作为实验室科研探索测量光学组件应力分布测量，也可用作诸如玻璃面板，透镜，晶体，单晶硅/多晶硅、注塑成品等工业生产中检测产品应力分布。产品软件直观显示待测样品应力情况，便于操作和日常监测。
150AT 应力双折射系统可以根据客户需求选择设置，使得测量更有针对性（高精度/大范围相位延迟量），系统有着极高测量速度的同时也具有极高的测量分辨能力（<1 mm grid spacing ），150AT应力双折射系统也提供倾斜位移平台等设计来帮助客户完成一些非常规扫描/测量需求。
产品特点
自动X/Y位移平台扫描
二维/三维图形/参数表格显示样品应力分布测量结果
台式整机设计组装
灵活位移平台设计，满足个性化定制需求
强大数据拟合分析功能和友好用户界面
参数
高精度测量系统选项 | 大范围相位延迟量测量选项 | |
相位延迟量范围: | 0.005 to 120+ nm | 0.005 to 300+ nm |
相位延迟量测量分辨率/ | 0.001 nm / ± 0.008 nm | 0.0 1 nm / ± 0.015 nm |
角度测量分辨率 / | 0.01o / ± 0.05° | 0.01o / ± 0.07° |
测量速率 / 时间4: | up to 100 pps / | |
尺寸: | 910 mm (H) x 415 mm (W) x 700 mm (D) | |
光源波长5: | Various (632.8 nm standard) | |
测量光斑6: | Between 1 mm and 3 mm native | |
内置测量调制频率: | PEMLabsTM Photoelastic Modulator | |
解调分析技术: | Hinds Instruments SignalocTM | |
测量单位: | nm (retardation), ° (angle) |
、
1 Typical performance at 5 nm retardation
2 Up to 0.8 nm, 1% thereafter
3 Up to 1.5 nm, 1% thereafter
4 Maximum data collection speed. Sample XY scan time dependent on stage movement parameters.
5 Custom wavelengths available
6Spot sizes of less that 1 mm native require optional high resolution detector module
选项:
* Additional Polarization Parameters
* 超高速扫描选项
* 光谱扫描测量和RGB测量
* 客户定制内置波长选项（紫外/红外）
* 手动/自动倾斜位移平台装置
* 定制样品平台加持谁记
* 定制化显示界面 (UI or DLL)
* 应力计算评估软件
更新时间：2023/11/11 17:13:57
半导体薄膜无损检测仪型号：
光弹性系数测量仪型号：
大孔径高功率光隔离器型号：
薄膜测量系统单点测量型号：MProbe 20
大尺寸皮MCP探测器型号：LAPPD
实时测量自相关仪型号：FR-103kHz
高功率自相关仪型号：FR-103HP
分光辐射亮度计型号：CS2000
Product classification
主营产品：昊量代理的产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、精密光学元件，连续激光器(CW),ns | ps | fs 脉冲激光器,可调谐激光器,激光量测设备,调制器,偏转器,滤波器,空间光调制产品,信号处理,分析设备,光谱仪器,相机系列,光学器件,光栅,光学晶体,光纤器件,位移台,偏转镜,旋转台,冷原子,量子光学产品,材料分析设备,光学检测设备,显微成像系统及组件,光学隔振平台,THz产品,X射线产品,等
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