发布时间:2020/5/18 15:22:55
AU-OSM-Z系列单轴压电扫描台采用压电陶瓷直推驱动,以柔性铰链为运动副,使其具有结构紧凑、体积小、无机械摩擦、定位分辨率高等优点。全行程采用电容位移传感器闭环反馈设计,精度可达到亚纳米量级。采用革命性双传感器技术,这一尖端的控制技术与以往相比,可实现更快、更准确以及更稳定的显微镜物镜聚焦。 全新双传感器技术克服了传统纳米定位系统的限制,可提供更快的阶跃响应,提高有效载荷出现变化时的稳定性,并且显著增加自动显微术应用时的机械带宽
Objective Scanning Mechanism 物镜扫描台、物镜定位器、 纳米定位工作台、 微定位工作台、压电精密定位系统,物镜Z轴扫描台,物镜高度扫描台,压电物镜聚焦平台,压电物镜扫描台
AU-OSM-Z系列纳米定位工作台采用压电陶瓷直推驱动,以柔性铰链为运动副,使其结构紧凑、拥有小的体积、无摩擦、无间隙、定位分辨率高等优点。
全行程采用电容位移传感器闭环反馈控制系统设计,电容位移传感器是将位移变化转换为电容电量信号的变化。电容位移传感器简单易用,而且拥有极高的精度,可达到亚纳米量级。结合数字闭环控制器,纳米定位工作台的响应时间和稳定时间可达到毫秒量级。低的移动质量和高的刚度结合可以提供非常高的带宽。
采用目前业内*尖端的双传感技术,这一尖端的控制技术与以往相比,可实现更快、更准确以及更稳定的显微镜物镜聚焦。 全新双传感器技术克服了传统纳米定位系统的限制,可提供更快的阶跃响应,提高有效载荷出现变化时的稳定性,并且显著增加自动显微术应用时的机械带宽。这项突破性的技术能够应用于各种袖珍模拟和数字控制器,其操作简便,为用户提供性能。
物镜扫描台主要包含AU-OSM-Z-100B和AU-OSM-Z-400A两款产品:
AU-OSM-Z-100B采用双传感技术,在不同负载下无需重复校正,提高有效载荷出现变化时的稳定性,并且显著增加自动显微术应用时的机械带宽。该产品具极短的稳定时间(<4ms),自振频率达到600Hz,其极快的稳定时间为工业标准的3倍。采用电容纳米传感器定位系统,使该产品具有高的重复性(0.1nm)、直线性(0.01%)和极低的迟滞现象(0.005%)。材质采用不胀钢,刚度达到了1.5N/mm。
AU-OSM-Z-400A,为大行程的物镜扫描台,可达400mm。同样采用双传感技术,拥有极短的稳定时间和高的带宽。利用电容位移传感技术,其分辨率达到1nm。采用高刚度、无摩擦的柔性铰链为传动导向机构。
u 主要特点
l 亚纳米的分辨率
l 高的带宽
l 高速响应
l 高的可靠性
l 压电陶瓷驱动
l 柔性铰链设计
l 电容位移传感器闭环反馈
l 双传感器设计
u 主要应用
表面结构分析、 自动聚焦系统、共聚焦显微镜、扫描干涉仪等。
u 主要参数
型号 参数 | AU-OSM-Z-100B | AU-OSM-Z-400A |
Material | Stainless Steel | Titanium alloy |
Size | 56 long x 46 diameter | 100 (L) x 49 (H) x 46 (?) |
Cable Length (m) | 2 | 2 |
Range (mm) | 100 (Typical) | 400 (min) |
Static stiffness (N/μm) | 1.5 | 0.5 |
Resonant frequency: 0g load | 600 Hz | 280 |
Maximum load (kg) | 0.6 | 0.5 |
Small signal settle time | <4 ms | 10 ms |
更新时间:2023/11/11 17:14:03
光量测设备-雾度计型号:LCRT-2005H-S
超小尺寸光束分析仪型号:CinCam Pico
紫外和蓝光危害测量仪型号:X1-3
自相关仪FR-103TPM-双光子显微专用型号:FemtoChrome.
光腔衰荡光谱测量系统型号:光腔衰荡光谱测量系统
定量双折射成像系统型号:定量双折射成像系统
FROG 超短脉冲测量分析仪型号:脉冲测量分析仪
Product classification
主营产品:昊量代理的产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、精密光学元件,连续激光器(CW),ns | ps | fs 脉冲激光器,可调谐激光器,激光量测设备,调制器,偏转器,滤波器,空间光调制产品,信号处理,分析设备,光谱仪器,相机系列,光学器件,光栅,光学晶体,光纤器件,位移台,偏转镜,旋转台,冷原子,量子光学产品,材料分析设备,光学检测设备,显微成像系统及组件,光学隔振平台,THz产品,X射线产品,等
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